研究室紹介

電界放射型２００ｋＶ透過型電子顕微鏡 （FE-TEM）
200kV Field-Emission Tranmisson Electron Microscope

型式 : JEM-2010F

日本電子株式会社

設置場所 : R棟1階

スペック

加速電圧：200kV

電子銃：ZrO/W

粒子分解能：0.19nm

格子分解能：0.10nm

最小プローブ径：0.5nm(EDSモード)、0.2nm (STEMモード)

付属機器

二軸傾斜分析ホルダー

二軸傾斜加熱ホルダー

エネルギー分散型Ｘ線分光器(EDS)

電子エネルギー損失分光器(EELS)

高角度環状暗視野検出器(HAADF)

主な用途

高分解能格子像の観察

CBED、ナノビーム回析

EDSによる極微小領域組成分析・マッピング

EELSによる極微小領域電子状態測定

エネルギーフィルタによる元素マッピング

HAADFを用いたＺコントラスト像の取得