研究室紹介

電界放射型走査型電子顕微鏡
Scanning Electron Microscopy

型式 : JSM-7001FA

日本電子株式会社

設置場所 : EM棟1階

スペック

加速電圧：30kV

主な用途

二次電子・反射電子による表面観察

EDSによる微小領域組成分析

EBSDによる結晶方位解析