研究室紹介

汎用200kV透過型電子顕微鏡
200kV Transmission Electron Microscopy

型式 : JEM-2000FX

日本電子株式会社

設置場所 : 新世代棟2階

スペック

加速電圧：200kV

粒子分解能：0.28nm

格子分解能：0.20nm

付属機器

エネルギー分散型Ｘ線分光器(EDS)

CCDカメラ

主な用途

明視野・暗視野像観察

高分解能格子像の観察

CBED・ナノビーム解析

EDSによる微小領域組成分析