Instrumentation Chemistry

lecture

In this course, instrumentation chemistry containing elemental analysis, composition analysis, structural analysisin nano- and micro-area are introduced. Based on their studies, students learn fundamental knowledges and various information about chemical analysis of organic and inorganic materials.

物質に関する化学情報(組成、存在状態、マクロ・ミクロおよびナノ構造など)を得るための様々な方法についてその原理と特徴を学び、また、それぞれの方法の応用例から得られる情報の種類とその方法の限界について学ぶ。これらの学習を通じて、研究計画を立案する際の分析法・計測法の選択および応用のための基礎知識を得る。

< Information>

Instrumentation Chemistry (Hokkaido Summer Insutitute lecture) start at 14:45 in June 7(Tue).
June 7(Tue), 8(Wed), 9(Thu): FCC building SUZUKI Hall 14: 45-16:15 and 16:30-18:00
June 10(Fri): Material and Chemistry building MC030, Faculty of Engineering. 14: 45-16:15 and 16:30-18:00

< 授業日程>

大学院講義:化学計測学特論(Hokkaido Summer Institute 講義)は6月7日(火)からスタートします。
6月7、8、9、(FCC棟鈴木記念ホール) 14: 45-16:15 および 16:30-18:00
6月10日(工学部材料化学棟MC030)14: 45-16:15 および 16:30-18:00

 

< Lecture notes>

Please select (high or low quality file) for dwonroad. Password for open-file is announced by ELMS e-mail in Hokkaido University.
Before coming the class、please print-out the lecture note for Instrumentation Chemistry. In this lecture, you write some words on the blanks in this lecture-note. You can use i-pad with smart pencil for touch screens.
高画質(5.3MB)もしくは低画質(2.2MB)の講義ノートファイルをダンロードしてください。講義ノート(ファイルを開くためのパスワードは北大ELMSメールで連絡されます
授業の前に、資料を印刷しておいてください。資料の空欄を書き込んでもらう形式の授業を行います。(パッドを使ってダウンロードしたファイルに電子ペンで書き込んでも大丈夫です)

Lecture note

Lecture note (High Quality: 5.3MB)

Lecture note (Low Quality: 2.2MB)

1)Basic lectures

What happens on the surface? (June 7 14:45-) 

Classification of instruments (June 7 16:30-)

2)Practical lectures

Analysis of shape (TEM, SEM, SPM, AFM) (June 8 14:45-)

Analysis of composition (AES, EPMA, XPS, XRF) (June 8 16:30-)

Analysis of structure (XRD, UV-Vis, Emission, Raman) (June 9 14:45-)

Analysis using ions (MS, SIMS) (June 9 16:30-)

3)Examination (June 10 14:45-)

4)Advanced topics for instrumentation chemistry (June 9 16:30-)

 

<References>

二瓶好正編, 日本分光学会測定シリーズ35 固体の表面を見る, 学会出版センター.
日本表面科学会編, 透過型電子顕微鏡, 丸善.
中田宗隆著, なっとくする機器分析, 講談社.
庄野利之 脇田久伸編著, 入門機器分析化学, 三共出版.
長谷川靖哉 細川陽一郎 中嶋琢也著, 光ナノ科学への招待, 化学同人.
長谷川靖哉 伊藤肇 著, エキスパート応用化学テキストシリーズ 
錯体化学 基礎から応用まで , 講談社.

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