情報科学研究科呂任鵬さん(修士2年)が2019 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD 2019)のYoung Research Oral Awardを受賞しました。

受賞日：2019年7月3日
氏名：呂任鵬
学年：修士2年
所属：情報科学研究科情報エレクトロニクス専攻量子情報エレクトロニクス講座量子知能デバイス研究室
授与団体：2019 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD 2019)
賞名：Young Research Oral Award
受賞論文名，研究題目名または受賞理由：｢Formation and Characterization of 2D Random Si Nano-Pattern Using Resist Collapse for Nano-Artifact Metrics（ナノ人工物メトリクスのためのレジスト倒壊を用いた２次元ランダムシリコンナノパターンの形成と評価）」
問い合わせ先： Tel 011-706-6509 ,E-mail kasai[a]rciqe.hokudai.ac.jp(葛西誠也)

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情報科学研究科 呂任鵬さん(修士2年)が2019 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD 2019)のYoung Research Oral Awardを受賞しました。

情報科学研究科呂任鵬さん(修士2年)が2019 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD 2019)のYoung Research Oral Awardを受賞しました。